2 mm、宽2 mm的通槽隔盘组成,两通槽之间的距离为13 mm,它以19.2 r/min的转速相对钨针固定盘反向转动,隔盘和钨针固定盘两轴之间水平距离为1mm,两者通过齿轮带动组成一打火机构。

2　检验电容性电路局限性分析

IEC标准明确指出,IEC火花试验装置用于试验本安电路有下列局限性:

(1)试验电流不大于3 A。

(2)对于电阻性和电容性电路的开路电压不大于300 V。

(3)对于电感性电路电感不大于1 H。

　　在上述局限性中,IEC标准并没有规定电容性电路的最大电容值,而对电容性电路的本安火花试验又无单独的试验装置。若对电容性电路进行试验,需在上述装置的基础上考虑充放电时间常数的影响,可采取减少钨针根数的方法来延长试验电路打火间隔,一般仅保留1根针或2根针进行试验。

长期应用表明,我国目前有相当数量的被检电路即使应用1根针,由于其电路时间常数过大,严重影响了电容性电路试验的灵敏度。若要保证采用IEC火花试验装置考核电容性电路试验的灵敏度,关键是接点开路时间应保证隔盘和钨针两电极接点从“短路-开路”时刻起,到被试验点两端电压充电至“开路-短路”时刻止,达到正常工作电压。因此,确定考核电容性电路,特别是存在较大电容的电路,考核试验灵敏度首先要计算电路充电时间常数,其次计算打火最小间隔时间。

2.1　接点打火间隔分析火花试验装置的打火间隔是不均匀的,有随机性,打火位置也有随机性,有时在隔盘的边缘,有时在隔盘上2 mm通槽的边缘。因此计算打火次数时,仅按钨针在隔盘的边缘和隔盘上的2 mm通槽两处打火位置考虑。

2.1.1　火花打火间隔

钨针和隔盘的运动轨迹如图1所示。

图中　r

 2/2   首页 上一页 1 2