标准等种种校正方法，使用这些方法都能使样品中基质物对X线的衰减得到校正。但是若不进行质量吸收校正，其定量的范围很窄，特别是在粉尘样品中含有较多重金属元素时（如多金属硫铁矿的样品），对定量分析将产生很大影响。因此，使用X线衍射法分析二氧化硅必须进行质量校正。
石英标准样是影响X线衍射法分析游离二氧化硅的另一关键。有的资料说明。在同一种滤膜上，用相同量的两种石英标准样来测定现场样品，其所得的结果误差竟可达300%以上，这是由于石英标准粒度分布不同，所产生的X线衍射也必然有显著的差异。理想的石英标准是其粒度分布基本合乎呼尘粒度分布，并具有良好的结晶性能。因此，有关单位必须对这一问题予以重视，使各试验室应该使用统一的石英标准，以减少因此而造成的分析结果的差异。
2.3关于滤膜问题呼尘是沉积在滤膜上面的，在采用X线衍射法进行粉尘分析时，无论是进行系列标样衍射峰积分强度测定，或是对试样中游离二氧化硅的定量测定，样品滤膜对
